dr. Rafal E. Dunin-Borkowski: Merjenje elektromagnetnega polja z nanometrsko ločljivostjo s presevnim elektronskim mikroskopom

V preteklih letih smo doživeli preporod presevne elektronske mikroskopije, do katerega je prišlo tako zaradi vpeljave nove strojne opreme, kot so izvori elektronov na poljsko emisijo, korektorji aberacij ter nosilci za in-situ eksperimente, kot tudi zaradi razvoja novih tehnik, algoritmov in programske opreme, ki izkoriščajo večjo hitrost računalnikov ter zmožnost nadzora in avtomatizacije sodobnih elektronskih mikroskopov. Ta razvoj je omogočil neposredno snemanje strukture materialov s prostorsko ločljivostjo, manjšo od 50 pm. V predavanju bom opisal, kako lahko s presevno elektronsko mikroskopijo pridobimo poleg kvantitativne informacije o lokalni mikrostrukturi in kemiji sestavi materialov tudi podatke o magnetnem polju in porazdelitvi gostote naboja z domala atomsko ločljivostjo. Če te podatke združimo z iterativno rekonstruiranimi modeli, elektronsko tomografijo in z in-situ rezultati, lahko dobimo kvantitativno informacijo o magnetnih lastnosti materiala in sicer v treh razsežnostih, to je v odvisnosti od temperature, zunanjega polja ter reaktivnih plinov. V predavanju bodo predstavljeni rezultati, ki se nanašajo na preiskave  posameznih magnetnih nanokristalov in skirmionov v razširjenih plasteh in v geometrijsko omejenih strukturah. Predavanje bom sklenil z osebnim pogledom na smeri razvoja presevne elektronske mikroskopije, ki utegnejo zahtevati korenite spremembe zasnove mikroskopov, dolgotrajnejše eksperimente, kvantitativno primerjavo rezultatov meritev s komplementarnimi tehnikami in naprednimi simulacijami ter nove pristope pri obdelavi in shranjevanju podatkov.

V okviru kolokvijev IJS bo prof. dr. Rafal E. Dunin-Borkowski, v četrtek 22. novembra ob 10. uri predaval na Institutu Jožef Stefan.

Predavanje bo v angleščini.

 

Foto: rafaldb.com