Pages Menu
TwitterRssFacebook
Categories Menu

Posted on 12.01.20 in Inštituti

Geoffrey W. Grime: Skozi drugačne oči: štirideset let jedrske mikroskopije na mikrometrski skali

Geoffrey W. Grime: Skozi drugačne oči: štirideset let jedrske mikroskopije na mikrometrski skali

V sklopu “Kolokvijev na IJS” bo v torek, 14. januarja 2019, ob 13. uri v Veliki predavalnici Instituta »Jožef Stefan« predaval prof. dr. Geoffrey W. Grime (University of Surrey).

L. 2020 mineva štirideset let od prve objave slik, dobljenih z analizo z ionskim žarkom s prostorsko ločljivostjo 1 mikrometra. Ta metoda izkorišča reakcijske produkte, ki jih oddajajo vzorci po obsevanju z žarkom ionov z energijo nekaj megaelektronvoltov iz ionskega pospeševalnika. Ti produkti sestojijo iz svetlobe in rengtenskih žarkov, ki jih oddajajo elektroni atomov, nato iz delcev in žarkov gama, ki jih izsevajo vzbujena jedra, ter naprej in nazaj sipanih delcev iz žarka samega. Iz reakcijskih produktov lahko razberemo koncentracije elementov v vzorcu z visoko občutljivostjo, specifičnostjo in natančnostjo. V mnogih primerih lahko določimo tudi globinski profil ter strukturne in kemijske podatke. V poznih sedemdesetih je skupina v Oxfordu razvila metodo za fokusiranje visokoenergijskih ionskih žarkov na premer 1 mikrometra, s čimer smo dobili prvo jedrsko mikrosondo za slikanje. Danes je ta metoda na voljo v laboratorijih po vsem svetu in jo uporabljajo na različnih področjih od arheologije do zoologije. V predavanju bodo orisali ozadje in zgodovino jedrske mikrosonde in opisali nedavna projekta, ki so ju izpeljali na Univerzi v Surreyju in ki izpostavljata širok spekter uporabnosti jedrske mikrosonde: rekonstrukcijo izgubljene slike na zbledelem vitražu in identifikacijo kovinskih atomov v proteinih.

Predavanje bo v angleščini.

 

Foto: surrey.ac.uk

Post a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *